EMI(전자기 간섭)
정의
EMI는 전자 장치의 정상적인 작동을 방해하거나 영향을 미칠 수 있는 모든 전자기 에너지를 나타냅니다. 이러한 간섭은 자연 현상(번개, 태양 활동 등)이나 인공-소스(무선 송신기, 스위치-모드 전원 공급 장치 등)로 인해 발생할 수 있습니다. EMI는 일반적으로 두 가지 유형으로 분류됩니다.
전도된 EMI: 전선이나 기타 도체를 통해 전파되는 전자기 에너지입니다.
방사 EMI: 전자기파의 형태로 공간을 통해 전파되는 전자기 에너지.
집중하다
EMI의 주요 초점은 장치가 간섭 소스로 작용할 가능성을 줄이거나 제거하여 다른 시스템에 불필요한 전자기 간섭을 일으키지 않도록 하는 것입니다.
EMC(전자기 호환성)
정의
EMC는 다른 장치에 허용할 수 없는 전자기 간섭을 일으키지 않고 의도된 전자기 환경에서 전자 장치가 올바르게 작동하는 능력을 나타냅니다. 즉, EMC는 장치가 외부 간섭에 저항할 수 있고 다른 시스템의 간섭 원인이 되지 않도록 보장합니다.
집중하다
EMC는 장치의 전자기 방출 제어에 중점을 둘 뿐만 아니라 복잡한 전자기 환경에서의 내성 성능을 강조하여 외부 간섭의 영향을 받지 않고 예상 작동 조건에서 안정적인 작동을 보장합니다.
테스트 방법 및 절차
EMI 테스트
목적: 장치에서 생성되는 전자기 방출을 측정 및 평가하여 관련 규정 및 표준을 준수하는지 확인하고 이를 통해 다른 장치와의 간섭을 방지합니다.
테스트 내용:
전도 방출: LISN(Line Impedance Stabilization Networks)과 같은 도구를 사용하여 전력선, 신호선 등을 통해 장치에서 방출되는 노이즈를 측정합니다.
방사성 방출: 차폐된 무향실에서 장치 주변의 전자기장 강도를 측정합니다.
테스트 장비:
스펙트럼 분석기: 전자기 방출의 주파수와 진폭을 측정합니다.
안테나: 방사 방출 신호를 수신하고 측정하는 데 사용됩니다.
리스: 전도성 방출 테스트용.
EMC 테스트
목적: 전자기 환경에서 장치의 내성 및 방출 제어를 검증하여 다양한 전자기 조건에서 안정적인 작동을 보장합니다.
테스트 내용:
면역 테스트: 다양한 실제-전자기 간섭을 시뮬레이션하여 기기가 정상적으로 작동할 수 있는지 확인합니다.
정전기 방전(ESD)
무선 주파수 전자기장(RF 전자기장)
전기적 고속 과도 현상/버스트(EFT/버스트)
급등하다
전도 내성
방사 내성
배출 제어 테스트: EMI 테스트와 유사하지만 더 엄격하여 장치의 전자기 방출이 지정된 제한을 초과하지 않도록 보장합니다.
테스트 장비:
EMC 연구실: 차폐 인클로저, 신호 발생기, 전력 증폭기 및 기타 특수 장비를 갖추고 있습니다.
시뮬레이션 소프트웨어: 복잡한 전자기 환경을 시뮬레이션하고 사전{0}}적합성 테스트를 수행하는 데 사용됩니다.
